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    3. 技術支持

      半導體檢測機
      半導體檢測機
      半導體檢測機
      產品用途: 半導體IR隱崩檢查機,可穿透硅晶圓(Silicon Wafer),進行隱崩檢測。

      隨著半導體(Semiconductor)的制程越來越精細,晶圓(Wafer)越做越薄,晶圓級封裝所面臨的質量挑戰越來越大, 擁有專利的IR隱崩檢測機,可穿透硅晶圓(Silicon Wafer),幫助客戶確認IC是否有背崩、隱裂及隱崩的問題,并可搭載全自動上下料系統及自動判斷軟件,進行有效的質量管控。

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